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JM1160-748635 
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產(chǎn)品描述
注冊信息
掃描電化學(xué)顯微系統(tǒng)（ＳＥＣＭ）
交流掃描電化學(xué)顯微鏡系統(tǒng)（ａｃ－ＳＥＣＭ）
間歇接觸掃描電化學(xué)顯微鏡系統(tǒng)（ｉｃ－ＳＥＣＭ）
微區(qū)電化學(xué)阻抗測試系統(tǒng)（ＬＥＩＳ）
掃描振動點擊測試系統(tǒng)（ＳＶＥＴ）
電解液微滴掃描系統(tǒng)（ＳＤＳ）
交流電解液微滴掃描系統(tǒng)（ａｃ－ＳＤＳ）
掃描開爾文探針測試系統(tǒng)（ＳＫＰ）
非觸式微區(qū)形貌測試系統(tǒng)（ＯＳＰ）
出色的性能
快速***的閉環(huán)定位系統(tǒng)為電化學(xué)掃描探針納米***研究的需求而特別設(shè)計。結(jié)合Ｕｎｉｓｃａｎ 獨特的混合型３２－ｂｉｔ?。模粒眉夹g(shù)，用戶可以選擇合適實驗研究的***佳配置
先進和靈活的工作平臺
系統(tǒng)可提供９種探針技術(shù)，使得Ｍ４７０成為全球***靈活的電化學(xué)掃描灘鎮(zhèn)工作平臺。
全面的附件
７種模塊可選，３種不同電解池，各式探針，長距顯微鏡以及后處理數(shù)據(jù)分析軟件。
Ｍ４７０新產(chǎn)品特征
ＳＥＣＭ自動處理曲線
ＳＥＣＭ用戶自定義處理曲線步長變化
高分辨率讀取
手動或自動調(diào)節(jié)相位
Ｍ４７０同時具備如下特點：
傾斜校正
Ｘ或Ｙ曲線相減（５階多項式）
２Ｄ或３Ｄ快速傅里葉變化
實驗，探針移動和區(qū)域繪圖的自動排序
圖形實驗測序引擎（ＧＥＳＥ）
支持多區(qū)域掃描
所有實驗多個數(shù)據(jù)視圖
峰值分析
Ｍ４７０是由Ｕｎｉｓｃａｎ儀器開發(fā)的第四代掃描探針系統(tǒng)，具有更高規(guī)格和更多探針技術(shù)。
Ｍ４７０技術(shù)參數(shù)
工作站（所有技術(shù)）
掃描范圍（ｘ，ｙ，ｚ） 大于１００ｎｍ
掃描驅(qū)動分辨率 ***高０．１ｎｍ
閉環(huán)定位 線性零滯后編碼器，直接實時讀出ｘ，ｚ和ｙ位移
軸分辨率（ｘ，ｙ，ｚ） ?。玻埃睿?/span>
***大掃描速度 ?。保玻担恚恚?/span>
測量分辨率 ３２－ｂｉｔ解碼器＠高達４０ＭＨｚ
壓電（ｉｃ－和ａｃ－掃描探針技術(shù)）
振動范圍 ?。玻埃睿怼。拨蹋矸迮c峰之間１ｎｍ增量
***小振動分辨率 ?。埃保玻睿恚ǎ保叮猓椋簟。模粒茫处蹋恚?/span>
壓電晶體伸展 ?。保埃唉蹋?/span>
定位分辨率 ０．０９ｎｍ（２０－ｂｉｔ?。模粒谩?，１００μｍ）
機電
掃描前端 ?。担埃啊粒矗玻啊粒叮罚担恚恚ǎ取粒住粒模?/span>
掃描控制單元 ２７５×４５０×４００ｍｍ（Ｈ×Ｗ×Ｄ）
功率 ?。玻担埃?/span>
